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检查富士相机感光元件（CMOS）坏点的专业方法分为静态测试和动态测试两类，需结合软件分析与目视检测：
一、静态测试（照片检测）
1. 统一背景拍摄法
关闭镜头盖或使用不透明物体完全遮挡镜头，分别以最低ISO（如ISO 160）和最高ISO（如ISO 12800）拍摄全黑照片，曝光时间建议1/30s、1s、30s三档。注意环境温度需恒定，高温会加剧热噪干扰。
2. 软件分析
使用Dead Pixel Test或Adobe Photoshop的阈值分析功能（图像>调整>阈值，设250以上）。坏点表现为固定位置的白/彩点，与随机噪点不同。专业用户可使用Imatest软件量化评估。
3. 多格式验证
分别测试RAW和JPEG格式，原生坏点在两种格式中位置一致，若仅JPEG出现可能是压缩伪像。
二、动态测试（视频检测）
1. 4K视频压力测试
拍摄10分钟以上4K/60p视频，导入DaVinci Resolve使用探头工具检查固定位置异常像素。视频坏点常表现为持续闪烁的亮点。
2. 渐变场景测试
缓慢平移拍摄纯色墙面，坏点会在画面移动时保持固定坐标，与CMOS灰尘（会随镜头移动产生位移）形成区别。
扩展知识：
富士X-Trans传感器采用非传统排列，坏点可能被机内软件修复，建议关闭「长时间NR」功能测试
视频模式下更易暴露的"hot pixel"与温度强相关，建议在相机升温后复测
工业标准允许每百万像素≤5个坏点，超过可申请官方Sensor Mapping校准
处理建议：
发现坏点可尝试：
1. 执行相机「像素映射」功能（菜单→用户设置→传感器清洁）
2. 用Capture One的坏点校正工具后期修复
3. 保修期内优先选择官方维修，富士部分机型支持线下售后点现场检测。
